-
超聲波清洗器
-
培養(yǎng)箱
-
磁力攪拌器 電動(dòng)攪拌機(jī) 勻漿機(jī)
-
滅菌器
-
實(shí)驗(yàn)室家具
-
超低溫冰箱 冷藏柜
-
純化設(shè)備
-
純水機(jī) 蒸餾水器
-
合成/反應(yīng)設(shè)備
-
氣體發(fā)生/處理設(shè)備
-
分離/萃取設(shè)備
-
粉碎機(jī) 研磨儀 均質(zhì)機(jī)
-
液體處理設(shè)備
-
制樣/消解設(shè)備
-
恒溫/加熱/干燥設(shè)備
-
泵
-
其它實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備
日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡
現(xiàn)在位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡
- 產(chǎn)品簡介
- 產(chǎn)品性能參數(shù)
- 適用范圍
- 服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)
JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。
從設(shè)定視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡JSM-IT500 InTouchScope?的特點(diǎn)及功能介紹:
3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn) 使日常分析更迅速!更簡便!
①關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag
從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和指定分析位置。尋找視野非常輕松, 指定多視野連續(xù)分析的位置也很容易。
②關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過程中,進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中, 如果給感興趣的元素加上alert ,會(huì)更容易發(fā)現(xiàn)。
③關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報(bào)告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動(dòng)數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù),一鍵就能生成報(bào)告。
關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag ~將大視野光學(xué)CCD圖像和SEM圖像結(jié)合~
直到高倍率觀察的順利操作!
光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的結(jié)合和無縫操作使工作效率大大提高
利用Zeromag能簡便自動(dòng)地進(jìn)行大區(qū)域觀察和EDS分析
利用Zeromag設(shè)置蒙太奇
蒙太奇結(jié)果 4×4 (左:背散射電子成份像 右:Ca元素面分布圖)
樣品:混凝土 加速電壓:15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域:約4mm×3mm
利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域,有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識(shí)別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細(xì)信息時(shí)非常有效。
關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析~SEM和EDS一體化集成~
利用Live Analysis功能,可在觀察窗口中進(jìn)行被觀察區(qū)域的EDS分析??梢匀菀椎卣业阶约焊信d趣的元素,還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。
①顯示存在于測試區(qū)域中的主元素。能指定元素并顯示“Alert”。
②會(huì)顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性分析結(jié)果。
③一鍵點(diǎn)擊就可以在電鏡操作界面和詳細(xì)分析顯示界面間切換。
關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW? Lab~無縫創(chuàng)建報(bào)告?
SMILE VIEW? Lab是能集中管理與樣品臺(tái)位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報(bào)告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析,生成報(bào)告等都能簡便地進(jìn)行。
①顯示各個(gè)視野的名稱。
②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。
③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個(gè)視野的位置。
④會(huì)列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。
分辨率 高真空模式 | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
低真空模式*1 | 4.0 nm (30 kV BED) |
圖像倍率 | ×5~×300,000 |
(以128 mm × 96 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率) | |
顯示倍率 | ×14~×839,724 |
顯示器上的圖像倍率(以358 mm × 269 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率) | |
電子槍 | 鎢燈絲 電子槍完全自動(dòng)合軸 |
加速電壓 | 0.3kV~30kV |
低真空壓力設(shè)定范圍※1 | 10~650Pa |
物鏡光闌 | 3檔 帶有XY微調(diào)功能 |
自動(dòng)功能 | 燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整,聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整 |
max樣品尺寸 | 200 mm直徑×75 mm高度 |
200 mm直徑×80 mm高度※選配件 | |
32 mm直徑×90 mm高度 ※選配件 | |
樣品臺(tái) | 大型全對中式 |
X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm | |
傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360° | |
圖像無縫拼接功能 | 標(biāo)配 |
顯示測試位置座標(biāo) | 直徑203 mm |
標(biāo)準(zhǔn)菜譜 | 有(包括EDS條件 ※2) |
圖像模式 | 二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1等 |
獲取圖像的像素?cái)?shù) | 640x480 1,280x960 |
2,560x1920 5,120x3,840 | |
OS | Microsoft®Windows®10 64bit |
顯示器 | 23寸觸摸屏 |
EDS 功能*2 | 譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析(水平線分析、任意方向線分析)元素面分布、電子束追蹤等 |
測長功能 | 有(兩點(diǎn)間距離、平行線間距離、角度、直徑等) |
數(shù)據(jù)管理功能 | SMILE VIEW? Lab |
生成報(bào)告功能 | SMILE VIEW? Lab |
語言切換 | 可以在UI 上(日語/ 英語) |
抽真空系統(tǒng) | 完全自動(dòng) TMP:1 臺(tái)、RP:1臺(tái)或2臺(tái)※1 |